介電阻抗譜儀、介電溫譜儀是為了滿足材料在高溫環境下的介電性能測量需求而設計的。它由硬件設備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測量系統軟件四個組成部分。
高溫測試平臺是為樣品提供一個高溫環境；高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平臺；阻抗分析儀則負責測試各組參數數據。最后，再通過測量軟件將這些硬件設備的功能整合在一起，形成一套由實驗方案設計到溫度控制、參數測量、圖形數據顯示與數據分析于一體的介電阻抗譜儀、介電溫譜儀。
長沙三琦介電溫譜儀可測量陶瓷、薄膜、半導體等塊狀材料，可與WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分析儀集成使用，組成一套集實驗方案設計、測量、數據輸出、數據分析的高溫介電溫譜測量系統?？赏瑫r測量及輸出頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、介電溫譜的測量數據與圖形。測試頻率為DC-30MHz。
