1.關(guān)于內(nèi)存的問(wèn)題，除了內(nèi)存泄露以外，還可能存在內(nèi)存不合理使用的情況，也會(huì)導(dǎo)致IOS內(nèi)存警告。內(nèi)存的不合理使用往往比內(nèi)存泄露更難發(fā)現(xiàn)，內(nèi)存泄露可以更多借助于工具判斷，而內(nèi)存的不合理運(yùn)用更多需要開(kāi)發(fā)者結(jié)合代碼、架構(gòu)來(lái)進(jìn)行分析。

2.內(nèi)存泄露和內(nèi)存不合理運(yùn)用區(qū)別：內(nèi)存泄露是指內(nèi)存被分配了，但程序中已經(jīng)沒(méi)有指向該內(nèi)存的指針，導(dǎo)致該內(nèi)存無(wú)法被釋放，產(chǎn)生內(nèi)存泄露。內(nèi)存不合理運(yùn)用（Abandoned Memory）也就是存在已分配內(nèi)存的引用，但實(shí)際上程序中不會(huì)使用。比如圖片等對(duì)象加入了緩存，但緩存中的對(duì)象一直沒(méi)用被使用。

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